%0 Journal Article
%T 一种高精度CCD测试系统的非均匀性校正方法
%A 李静
%A 王军政
%A 马立玲
%J 北京理工大学学报
%D 2010
%X 针对高精度光电耦合器件(CCD)测试系统中像素的非均匀性给测试结果带来较大误差的问题,根据引起图像像素非均匀性噪声的特性,建立了对应的图像模型.采用自适应阈值分割算法将图像二值化分离出有效使用像素,并提出了一种采用两点线性方法对非均匀性像素进行校正的算法.仿真实验采用高速面阵CCD采集由激光器发射的圆形光斑图像,并通过计算图像光斑的中心坐标进行了验证.结果表明,该算法能够将图像的复杂背景与光斑分离,可校正其像素的非均匀性,稳定光斑的像素灰度值.在相同条件下连续采集图像,图像光斑的中心坐标稳定.
%K CCD图像
%K 非均匀性校正
%K 两点线性算法
%K 自适应阈值分割算法
%U http://journal.bit.edu.cn/zr/ch/reader/view_abstract.aspx?file_no=20100417&flag=1