%0 Journal Article
%T 标准模型下γγ→μ μ-过程的弱电辐射修正
%A 孙红娟
%A 胡炳全
%A 方祯云
%J 重庆大学学报
%D 2005
%R 10.11835/j.issn.1000-582X.2005.10.027
%X 通过在标准模型下对双光子碰撞产生正负μ子对的弱电辐射修正--包括虚修正和软光子修正的计算,得到了单圈修正下γγ→μμ-过程的散射截面.并在较大范围内给出了树图和单圈弱电修正下散射截面随质心能量√s的变化关系.此结果对双光子碰撞产生Higgs粒子的测量背景扣除具有重要意义.
%K 弱电辐射修正
%K 散射截面
%K 质心能量
%K 微分截面
%U http://qks.cqu.edu.cn/cqdxzrcn/ch/reader/view_abstract.aspx?file_no=2005010394&flag=1