%0 Journal Article
%T Ｘ射线残余应力的层析扫描测定
%A 陈玉安
%A 周上祺
%J 重庆大学学报
%D 2000
%R 10.11835/j.issn.1000-582X.2000.06.029
%X 针对常规Ｘ射线残余应力测定法和美国Ｘ２００１应力仪测定方法存在的问题，提出了测定低原子序数材料内部三维应力的层析扫描方法，对装置和测定原理进行了讨论，设计出适合于层析扫描测定方法的计算机程序。根据提供的试验数据，能够对这类材料表面及内部任意一点进行全三维应力分析，计算应力及梯度和被测材料的晶面间距，并有一套计算的自我控制机制。
%K X射线应力分析
%K 工件
%K X射线积分法
%K 层析扫描
%K 残余
%U http://qks.cqu.edu.cn/cqdxzrcn/ch/reader/view_abstract.aspx?file_no=200006213&flag=1