%0 Journal Article
%T 高纯氧化铅的质谱分析
%A 中国科学院吉林应用化学研究所质谱组
%J 分析化学
%P 96-100
%D 1977
%X 为了研究氧化铅的半导体性能,需要制备和分析高纯氧化铅.对于"六个九"样品要求分析其中几十个杂质,包括常见元素在内,杂质总量必须小于1ppm.因而对单个元素必须有极高的分析灵敏度,并且对样品的预处理和分析过程中使用的试剂以及环境皆有很高的要求.这样,常用的分析方法难于达到要求.火花源质谱仪有高灵敏度和多个元素同时测定的特点.
%U http://210.14.121.5:8080/fxhx/CN/abstract/abstract12492.htm