%0 Journal Article
%T X-射线荧光分析中薄膜试样的面积和厚度对分析结果的影响
%A 贺春福
%A 任红星
%J 分析化学
%P 458-460
%D 1993
%X 本文就薄膜法制样、用X-射线荧光谱法分析稀土样品时,试样面积和厚度对分析结果产生的影响作了定量研究,提出的有关分析条件和参数用于实际样品分析中,获得了满意的分析结果。
%K 薄膜法制备样品
%K 微量试样
%K X-射线荧光谱法
%U http://210.14.121.5:8080/fxhx/CN/abstract/abstract8159.htm