%0 Journal Article
%T 基质辅助激光解吸电离飞行时间质谱用于高分子端基修饰反应的监控
%A 陈友存
%A 陈文章
%A 刘光祥
%J 分析化学
%P 127-127
%D 2003
%X 基质辅助激光解吸电离飞行时间(MALDI-TOF)质谱是近年来发展起来的一种“软电离”质谱分析方法,具有样品分子不易碎裂,准分子离子峰强的优点,在多肽、蛋白质、DNA等生物大分子及杯芳烃等重要的有机化合物的分析中得到广泛的应用.但实践证明,MALDI-TOF质谱还是高分子化合物的有效表征和结构鉴定手段.本文将MALDI-TOF质谱用于监控高分子化合物甲基丙烯酸丁酯末端酯基的水解反应的监控.
%U http://210.14.121.5:8080/fxhx/CN/abstract/abstract4524.htm