%0 Journal Article
%T 高岭土精矿的X-射线荧光分析
%A 包生祥
%J 分析化学
%P 619-619
%D 1996
%X 高岭上因其优良的理化性能在造纸、化工、陶瓷、电子和建材等工业上用途广泛.化学成分是评价其质量和用途的重要指标.X-射线荧光熔融制片法对高岭土原矿分析是值得推荐的方法,但对于精矿因杂质含量低,常因烙剂的某些杂质如Na在培片中达到精矿同等含量,不利于准确分析.本文采用粉末制片法直接测定高岭土精矿中的SiO2、Al2O3和杂质.
%U http://210.14.121.5:8080/fxhx/CN/abstract/abstract2042.htm