%0 Journal Article
%T 一种新的滤纸基质固体表面低温荧光(燐光)测定装置
%A 何晓东
%A 蔡东
%A 邓桂春
%A 臧树良
%J 分析化学
%P 880-884
%D 2002
%X 对自行研制的铜制滤纸基质低温荧光(燐光)测定的样品支架,进行了滤纸基质固体表面低温荧光测定的可行性研究.与同类冷冻装置和室温测定装置比较,本装置用于滤纸基质固体表面低温荧光(燐光)测定具有以下优点:样品的分析周期大大地缩短,由45min缩短为5～6min;装置简单、便宜耐用;操作简便,简化了室温测定时的滤纸干燥程序;应用范围广;方法的重现性好,检样分析结果的相对标准偏差RSD%小于10%;荧光(燐光)分析灵敏度高,检出限低,线性范围宽
%K 滤纸基质
%K 固体表面
%K 低温装置
%K 荧光(燐光)测定
%U http://210.14.121.5:8080/fxhx/CN/abstract/abstract4292.htm