%0 Journal Article
%T 电荷耦合器件光度检测-深通道多相层流微流控芯片分析系统
%A 沈宏
%A 叶美英
%A 方群
%A 殷学锋
%J 分析化学
%P 1659-1662
%D 2005
%X 采用精密数控雕刻技术,加工用于微流控多相层流分析的深通道(深度500μm)聚碳酸酯芯片,以提高芯片进行吸收光度检测的灵敏度。建立了无需辅助光学设备的近距离CCD二维图像光度检测系统,应用于三流路并行的多相层流比色分析。该芯片分析系统的特点是芯片加工快捷,检测灵敏度高,检测光程较常规芯片增加1个数量级;系统结构简单,易于推广。
%K 微流控芯片
%K 多相层流分析
%K 电荷耦合器件光度检测
%U http://210.14.121.5:8080/fxhx/CN/abstract/abstract5804.htm