%0 Journal Article
%T 石英晶体微天平在聚合物薄膜研究中的应用与展望
%A 杜滨阳
%A 范潇
%A 曹峥
%A 郭小磊
%J 分析化学
%P 752-759
%D 2010
%X 石英晶体微天平仪(QCM)具有高度的灵敏性,能够对石英晶片表面微痕量物质的变化产生响应,在分析科学研究中广泛应用。本文阐述了QCM的基本工作原理和应用基础方程,并在此基础上综述了近年来QCM在聚合物薄膜研究中的应用及研究进展,包括QCM对聚合物薄膜的厚度和力学性能的测量、QCM研究聚合物分子链在石英晶片表面的吸附过程和链构象变化、表面引发生长聚合物刷的动力学过程、基于功能聚合物薄膜和QCM的生物与化学传感器等,同时对QCM在聚合物薄膜研究领域的进一步深入应用进行了展望。
%K 聚合物薄膜
%K 石英晶体微天平
%K 评述
%U http://210.14.121.5:8080/fxhx/CN/abstract/abstract787.htm