%0 Journal Article
%T X射线荧光滤纸片法分析稀土样品谱线间干扰系数的求得和应用
%A 贺春福
%A 刘学东
%A 任红星
%J 分析化学
%P 933-935
%D 1987
%X X射线荧光谱法分析稀土元素时,采用滤纸片法制样,引起测量误差的问题报道中[1,2]已有讨论。由于滤纸上吸附样品量仅1-2mg,一般认为基体效应可以忽略,但稀土元素谱线间的干扰是严重的问题[3]。本文主要是探讨稀土元素谱线间干扰系数的求得及将其应用于混合稀土样品分析。
%U http://210.14.121.5:8080/fxhx/CN/abstract/abstract10054.htm