%0 Journal Article
%T 石墨炉原子吸收法直接测定半导体材料-磷化铟中的微量铁
%A 周国君
%J 分析化学
%P 806-810
%D 1987
%X 本文叙述用石墨炉原子吸收光谱法,直接测定半导体材料-磷化铟中微量铁的分析方法。样品用盐酸溶解。测定下限为0.3ppm,相对标准偏差为6%,加入回收率为98%。试验表明,用金属钽的盐溶液涂覆平度热解涂层石墨管,可使铁的吸光度增加2-3倍,测定的精密度也获得显著改善。在石墨炉的一般升温程序中,增加冷却步时,铁的吸光度提高15%左右。
%U http://210.14.121.5:8080/fxhx/CN/abstract/abstract10090.htm