%0 Journal Article
%T 用DAN测定微量硒时荧光强度的校正
%A 郑达贤
%A 赵乃芹
%A 李德珠
%J 分析化学
%P 850-853
%D 1983
%X 2,3-二氨基萘(DAN)中痕量杂质引起的背景荧光是限制用该试剂测定超微量硒时灵敏度进一步提高的主要因素[1],因此,寻求合适的方法扣除每一个具体测试样品的杂质背景荧光以校正测试的荧光强度是提高这一方法灵敏度和精密度的重要途径。
%U http://210.14.121.5:8080/fxhx/CN/abstract/abstract11199.htm