%0 Journal Article
%T X射线荧光光谱法测定地质样品中的铀和钍
%A 肖德明
%A 甘璇玑
%A 张鸿文
%J 分析化学
%P 750-753
%D 1983
%X 由于X荧光光谱仪研制的进展,已有可能使用这种仪器对地质样品中低量铀和钍进行直接快速测定[1,2].此法是仅次于中子活化分析的较好的仪器分析法[3].在地质样品中使用峰背比法[4],以X光管辐射的散射线作内标,对基体效应可作一定的校正.本文拟定了测定含量范围为1-20000ppm的铀和钍分析法.
%U http://210.14.121.5:8080/fxhx/CN/abstract/abstract11180.htm