%0 Journal Article
%T X射线荧光光谱分析中的基本参数法
%A 吉昂
%A 陶光仪
%J 分析化学
%P 213-215
%D 1983
%X 基本参数法是利用X射线荧光强度的理论公式计算试样各组分浓度的方法。该法的优点是仅需纯元素作标样甚至不用标样即可进行多组分的试样分析。1968年Criss等[1]提出这一方法后,近年来在试样分析、计算经验系数法中的经验系数以及将基本参数法与经验系数法相结合等方面[2~5]均取得了较大的进展,而日益受到广泛的重视。
%U http://210.14.121.5:8080/fxhx/CN/abstract/abstract11426.htm