%0 Journal Article
%T 用质谱同位素稀释法定量分析三氧化钨及仲钨酸铵中杂质
%A 马树钦
%A 金万逸
%A 王永安
%J 分析化学
%P 681-684
%D 1984
%X 本文介绍了用火花源质谱同位素稀释法测定三氧化钨和仲钨酸铵中Pb、Sn、Mo、Ni、Fe和Cu等杂质元素的方法。该方法除具有火花源质谱能同时测定多元素和不用繁杂的化学分离手续外,还具有同位素稀释法准确度高的优点,因为杂质含量的测定是通过测定两种同位素丰度比的变化来实现,所以仪器的各种参数、显影条件的变动及干板之间的差别等所引起的误差都互相抵消,因而本方法分析准确度比火花源质谱分析的任何其它方法都好。而且定量分析不需要相应的标准。
%U http://210.14.121.5:8080/fxhx/CN/abstract/abstract10921.htm