%0 Journal Article
%T X射线荧光光谱法测定磁泡薄膜中Y、Bi、Ca、Fe、Ge、Si
%A 郝贡章
%A 吴长存
%A 李明洁
%J 分析化学
%P 778-782
%D 1985
%X 近年来用X射线荧光光谱测定薄样的方法及技术有了迅速发展,其中对于薄膜组份和厚度的非破坏测定,从Bergel等人[1]用人工制备的点滴滤纸片薄样作标准以来,该方法又有新的进展[2-5],本文在此基础上完成了对膜厚小于3μm的Gd-Ga石榴石磁泡薄膜中Y、Bi、Ca、Fe、Ge、Si原子比和含量的非破坏测定。
%U http://210.14.121.5:8080/fxhx/CN/abstract/abstract10560.htm