%0 Journal Article
%T VG354质谱计离子源电离带低温测量设备及其应用
%A 肖应凯
%A 魏海珍
%A 王庆忠
%A 张崇耿
%A 孙爱德
%J 分析化学
%P 1272-1276
%D 2002
%X 设计了一种用于VG354型热电离质谱计电离带低温测量装置(DWZZ).它由热电偶温度计及连接件组装而成,能即时测定电离带的表面温度.测定的离子源中电离带的低温段温度与加热电流的关系可用关系式y=-ax3+bx2-cx+d表示,温度测定的误差<±2℃.此装置已用于石墨非还原热离子发射特性和石墨存在下M2BO2+、M2X+离子的发射机理的研究.
%K 质谱
%K 热离子发射
%K 温度测量
%U http://210.14.121.5:8080/fxhx/CN/abstract/abstract4406.htm