%0 Journal Article
%T 基于Scrubbing的空间SRAM型FPGA抗单粒子翻转系统设计
%A 马寅
%A 安军社
%A 王连国
%A 孙伟
%J 空间科学学报
%P 270-276
%D 2012
%X 基于SRAM工艺的FPGA在空间环境下容易受到单粒子翻转(SingleEventUpsets,SEU)的影响而导致信息丢失或功能中断.在详细讨论三模冗余(TripleModularRedundancy,TMR)和刷新(Scrubbing)的重要原理及实现细节的基础上,实现了一种高可靠性、TMR+Scrubbing+Reload的容错系统设计,用反熔丝型FPGA对SRAM型FPGA的配置数据进行毫秒级周期刷新,同时对两个FPGA均做TMR处理.该容错设计已实际应用于航天器电子系统,可为高可靠性电子系统设计提供参考.
%K 单粒子翻转(SEU)
%K 三模冗余(TMR)
%K 刷新(Scrubbing)
%K FPGA容错
%U http://www.cjss.ac.cn/CN/abstract/abstract1821.shtml