%0 Journal Article
%T 压敏电阻冲击老化过程中温度对静态参数影响分析
%A 曹洪亮
%A 谭涌波
%A 陈则煌
%A 邢扬
%A 李鹏飞
%J 电瓷避雷器
%P 159-163
%D 2015
%R 10.16188/j.isa.1003-8337.2015.06.031
%X 研究了冲击老化过程中温度对压敏电压和泄漏电流的影响。研究表明，压敏电压呈现弱的负温度特性。随着冲击次数增加，压敏电压与温度的相关性有增强趋势，而且压敏电压随温度变化的波动变得明显。泄漏电流受温度影响较大。随着温度上升，泄漏电流呈指数函数上升，具有较强的正温度特性，且随着冲击次数增加，正温度特性越强。
%K 温度
%K 氧化锌压敏电压
%K 泄漏电流
%K 冲击老化
%K 势垒
%U http://www.dcblq.com/oa/DArticle.aspx?type=view&id=201506031