%0 Journal Article
%T 不可逆性电穿孔致HeLa细胞凋亡与坏死的作用研究
%A 周玮
%A 熊正爱
%A 刘颖
%A 李成祥
%A 姚陈果
%J 第三军医大学学报
%P 1941-1944
%D 2010
%X 目的探讨脉冲电场不可逆性电穿孔处理HeLa细胞时，发生细胞膜电穿孔、细胞凋亡、细胞坏死与脉冲电场参数的关系。方法采用固定脉宽100μs、频率1Hz、脉冲数8个，电场强度由250V/cm逐级升至2500V/cm的脉冲电场处理HeLa细胞。利用PI示踪、流式细胞术检测研究HeLa细胞膜发生穿孔的阈值电场剂量；CCK-8（cellcountingkit-8,CCK-8）法检测脉冲电场处理HeLa细胞的量效关系；AnnexinVkit染色、流式细胞术检测各组细胞的凋亡与坏死。结果HeLa细胞膜发生可逆性穿孔的阈值场强为750V/cm，发生凋亡的阈值电压为1250～1500V/cm，坏死的阈值为1750V/cm。结论不可逆性电穿孔杀灭HeLa细胞时细胞凋亡也发挥着重要作用，而且导致凋亡与坏死的电场范围相互重叠。
%K 脉冲电场
%K HeLa细胞
%K 电穿孔
%K 凋亡
%U http://aammt.tmmu.edu.cn/oa/darticle.aspx?type=view&id=201004069