%0 Journal Article
%T XPD基因多态性与辐射致染色体损伤关系
%A 金玉兰
%A 范雪云
%A 姚三巧
%A 白玉萍
%A 彭健
%A 任大伟
%J 中国公共卫生
%P 222-224
%D 2007
%R 10.11847/zgggws2007-23-02-53
%X ？目的探讨人类着色性干皮病基因D(XPD基因)751位点、312位点多态性与电离辐射损伤效应之间的相关性,为筛检电离辐射高危人群提供生物学指标。方法应用病例对照研究方法,以唐山市所有从事射线工作的人员为对象,选择有染色体异常的放射人员182人为病例组,以无辐射损伤182人为对照组,进行1:1配对。染色体分析采用微量全血培养法,XPD基因751,312位点基因型检测采用聚合酶链反应-限制性片断长度多态性(PCR-RFLP)分析。结果XPD751位点野生型AA与突变基因型(包括突变杂合子AC和突变纯合子CC)在病例组与对照组之间差异有统计学意义,病例组野生基因型频率高于对照组(OR=1.90,95%CI=1.10~3.28,P<0.05)。结论XPD751位点基因多态性与辐射致染色体损伤有关联,751位点野生基因型AA是辐射致染色体损伤的危险因素。
%K 电离辐射
%K XPD基因
%K 基因多态性
%K 染色体损伤
%K 易感性
%U http://manu40.magtech.com.cn/Jweb_zgggws/CN/abstract/abstract14187.shtml