%0 Journal Article
%T 渗铈活性焦汞脱附性能实验研究
%A 华晓宇
%A 周劲松
%A 高翔
%A 李乾坤
%A 骆仲泱
%A 岑可法
%J 中国电机工程学报
%P 61-66
%D 2011
%X 为了提高渗铈活性焦(activatedcoke，AC)CeO2/AC循环汞脱除效率，研究了其在纯N2条件下热再生时的汞析出规律，发现CeO2/AC再生后释放出的汞形态基本为Hg0，大量汞在270℃左右溢出，少部分在530℃左右溢出，再生温度超过300℃时，其汞再生效率都达到了90%。CeO2/AC的汞脱附特性只与脱附温度有关，而与升温速率关系不大。表面物理结构测定证明了CeO2/AC吸附汞的过程不仅是物理吸附，也存在化学吸附。利用Boehm法和X-射线能谱分析对CeO2/AC表面化学性质检测，发现其二次脱汞效率随再生次数以及再生温度的增加而降低，其原因可以归为活性焦表面的碳在再生过程中受到烧蚀和氧化导致CeO2的损耗以及表面酸性官能团的分解；因此，选择合适的再生温度是保证CeO2/AC循环汞脱除效率的必要条件。
%K 烟气
%K 活性焦
%K 再生
%K 汞脱附
%K CeO2
%U http://www.pcsee.org/CN/abstract/abstract24601.shtml