%0 Journal Article
%T 聚酰亚胺薄膜表面电荷的开尔文力显微镜研究
%A 孙志
%A 王暄
%A 韩柏
%A 雷清泉
%J 中国电机工程学报
%P 1957-1964
%D 2014
%R 10.13334/j.0258-8013.pcsee.2014.12.016
%X 为在微纳米尺度下研究无机纳米掺杂对聚酰亚胺表面电荷特性的影响,采用开尔文力显微镜测量了杜邦公司生产的原始聚酰亚胺薄膜和纳米掺杂耐电晕聚酰亚胺薄膜二种材料,在被导电微探针注入电荷后的表面电荷发生、发展特性。实验发现,在相同的电荷注入条件下,耐电晕薄膜上表面电荷积累量约为原始聚酰亚胺薄膜上电荷积累量的50%;耐电晕薄膜上电荷消散速度较快,约为原始聚酰亚胺薄膜上的4~5倍。分析可知,耐电晕薄膜由于掺杂了纳米颗粒Al2O3,使得薄膜的注入势垒增大、电阻率减小,这些因素减少了耐电晕薄膜表面电荷的积累,避免了局部电场畸变,进而增强了材料的耐电晕特性。
%K 聚酰亚胺
%K 开尔文力显微镜
%K 表面电荷
%K 纳米杂化
%K 耐电晕
%U http://www.pcsee.org/CN/abstract/abstract26682.shtml