%0 Journal Article
%T La2-xSrxCuO4(0.03x<0.17)单晶
%A 赵彦立
%A 许祝安
%A 张宣嘉
%A 焦正宽
%J 科学通报
%P 1942-1944
%D 2001
%X 系统地研究了高质量La2-xSrxCuO4单晶(x=0.03,0.05,0.07,0.1,0.12,0.17)的热电势S随掺杂浓度的变化.在所研究的掺杂范围内,热电势S保持正值.随着Sr含量x的增加,室温热电势S(290K)逐渐降低.报道了La系214相中空穴浓度和室温热电势S(290K)之间关系的经验公式.在金属扩散模型的理论基础上对实验数据进行了讨论.
%K La2-xSrxCuO4单晶
%K 热电势
%K 载流子浓度
%U http://csb.scichina.com:8080/CN/abstract/abstract367583.shtml