%0 Journal Article
%T 用X射线双晶衍射方法测定GaMnAs组分
%A 陈诺夫
%A 修慧欣
%A 杨君玲
%A 吴金良
%A 钟兴儒
%A 林兰英
%J 科学通报
%P 2035-2037
%D 2001
%X 对计算化合物晶体点缺陷的模型做了改进,在此基础上建立了一种精确测定GaMnAs中Mn组分的方法,并且在测定GaMnAs晶格参数的实验过程中,建立了一种消除X射线衍射仪零点漂移的方法,提高了测定晶格参数的精确度.采用该方法测试分析了离子束外延技术制备的GaMnAs单晶中Mn组分.
%K GaMnAs单晶
%K 稀磁半导体
%K X射线衍射
%K 晶格参数
%K Mn组分
%U http://csb.scichina.com:8080/CN/abstract/abstract367605.shtml