%0 Journal Article
%T 飞行时间二次离子质谱在摩擦学领域中的应用
%A 丛培红
%A 李同生
%A 刘旭军
%A 森诚之
%J 摩擦学学报
%D 2007
%X 介绍了二次离子质谱(SIMS)的结构、基本原理、分析特点,特别是飞行时间二次离子质谱在摩擦学研究领域,如对涂层及摩擦反应膜、润滑油添加剂的吸附与反应、硬磁盘/磁头摩擦界面中的应用与进展,指出了飞行时间二次离子质谱分析中存在的问题,希望为摩擦学领域学者在表面分析方面提供一些新的启示.
%K 飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)
%K 表面分析
%K 摩擦膜
%K 硬磁盘/磁头摩擦学
%K 摩擦化学反应
%U http://www.tribology.com.cn/ch/reader/view_abstract.aspx?file_no=200706121&flag=1