%0 Journal Article
%T X射线光电子能谱(XPS)在摩擦学研究中的应用
%A 丛培红
%A 吴行阳
%A 孙畅
%J 摩擦学学报
%D 2010
%X X射线光电子能谱(XPS)是最常用的表面分析技术之一，在材料的摩擦化学、摩擦和磨损机理以及材料失效等研究方面发挥着重要作用。本文综述了XPS的基本原理、设备构成、分析特点及在润滑油添加剂的吸附与反应、聚合物填料、气相润滑和离子液体等摩擦化学研究中的应用，希望为摩擦学者在表面分析方法方面提供一些新的启示。
%K X射线光电子能谱(XPS)
%K 表面分析
%K 新生面
%K 摩擦化学
%U http://www.tribology.com.cn/ch/reader/view_abstract.aspx?file_no=201001017&flag=1