%0 Journal Article
%T 镉、铅在玉米幼苗中的积累和迁移--X射线显微分析
%A 彭鸣
%A 王焕校
%A 吴玉树
%J 环境科学学报
%P 61-67
%D 1989
%X 用扫描电镜-X射线能谱仪及原子吸收分光光度计,测定经不同浓度镉、铅处理的玉米根、叶中镉、铅的积累。结果表明,铅的积累为皮层>中柱;木质部薄壁组织>导管。镉则相反。铅主要以非共质体途径在根内横向迁移,镉主要以共质体途径在根内横向迁移。原于吸收分光光度计测定表明,镉、铅主要在玉米根内沉积,镉铅复合作用促进了玉米根叶对镉、铅的吸收,镉比铅更易为玉米吸收且更易从根向叶迁移。
%K 玉米幼苗
%K 镉
%K 铅积累
%K 扫描电镜-X射线显微分析
%U http://www.actasc.cn/hjkxxb/ch/reader/view_abstract.aspx?file_no=19890109&flag=1