%0 Journal Article
%T 拉长石晕彩成因的电子探针研究
%A 彭艳菊
%A 何雪梅
%A 方勤方
%J 矿物岩石
%D 2007
%X 本文从拉长石晕彩色的空间分布特征研究出发，采用显微镜观察、粉晶X射线衍射及电子探针分析等手段，查明了拉长石不同晕彩区域的结构和成分特征，建立了晕彩拉长石的晕彩色与成分之间的耦合关系，并对拉长石晕彩成因进行了有效的约束。研究结果表明，拉长石的晕彩色是由层状结构对光的干涉所致，其结构单元层由贫钙和富钙两相长石共同组成，当结构层厚度处于128--292nm之间时出现可见光范围内的干涉色，但结构层表面并不绝对平坦，因而出现了有如地形图中等高线似的干涉色。结构层厚度与钙含量有关，随着钙含量的增加，结构层相应地增厚，晕彩色波长也随之增大。但由于产地和结晶环境的不同，干涉色相同的拉长石钙含量不一定相等，但对于同一产地的拉长石而言，干涉色波长与钙含量呈正相关关系。
%K 拉长石
%K 晕彩成因
%K 电子探针
%K 干涉色
%K 层状结构
%U http://www.yskw.ac.cn/ch/reader/view_abstract.aspx?file_no=20070570&flag=1