%0 Journal Article
%T 费氏台上精确测定钾长石的好方法砂薄片法
%A 赵鸿
%J 矿物岩石
%D 1990
%X 钾长石的2V和Ng∧⊥(010)、Ng∧⊥(001)的夹角是其结构状态的函数,其具有重要的地质意义。本文提出的费氏台砂薄片法所选取的钾长石碎屑近于垂直a轴(即近于垂直光率体的锐角等分线Np),具有易于判定消光位的干涉色和图象清晰的干涉图。在费氏台上用锥光法和四轴法能精确地测定这些光学数据。该方法操作简便、精度可靠,重复或易人求测误差均可控制在2°以内。大量实测结果表明它确是一种好的光学方法。
%K 费氏台
%K 砂薄片法
%K 钾长石
%K 结构状态
%K 光学有序度
%K 光学三斜度
%U http://www.yskw.ac.cn/ch/reader/view_abstract.aspx?file_no=19900113&flag=1