%0 Journal Article
%T 3σ方法在磁记忆检测中的应用
%A 李光霁
%A 孙国豪
%A 潘家祯
%J 华东理工大学学报
%P 726-732
%D 2007
%X 通过对带有已知预制裂纹试块的检测曲线进行分析,提出了一种评定应力集中的方法--3σ方法.如果x服从正态分布,式μ=x±3σ具有概率含义:测定结果x落在(μ-3σ,μ3σ)区间的概率为99.73%,概率不随σ的改变而改变.如果磁场强度变化曲线在(|μ-3σ|,∞)内,就认为此部位有应力集中.3σ方法更加符合统计学规律,对缺陷的判断也更符合实际情况.
%K 磁记忆检测
%K 漏磁场
%K 3σ理论
%U http://journal.ecust.edu.cn/ch/reader/view_abstract.aspx?file_no=200705163&flag=1