%0 Journal Article
%T XPS在YAG:Ce3+荧光粉中Ce3+半定量分析方面的应用
%A 王廉明
%A 庄李强
%A 黄月霞
%A 王德强
%J 华东理工大学学报
%P 484-488
%D 2015
%X 利用XPS测试方法对YAG:Ce3+荧光粉中的Ce3+含量进行了半定量分析,为研究Ce3+含量与YAG:Ce3+荧光粉发光强度的关系,在不同的烧结气氛下制备了一系列YAG:Ce3+荧光粉样品。通过分峰拟合计算可知,在4种不同的制备条件下,Ce3+的相对含量(fCe3+,用Ce3+峰面积与Ce3++Ce4+峰面积之比来估算)分别是88.46%,77.55%,75.33%和68.14%,所对应的烧结气氛依次为CO和N2的混合气氛、CO气氛、N2气氛和空气烧结气氛。YAG:Ce3+荧光粉的发光强度随着Ce3+相对含量的增加有显著增强。
%K YAG
%K Ce3+荧光粉
%K 半定量分析
%K 发光强度
%K Ce3+相对含量
%K XPS
%U http://journal.ecust.edu.cn/ch/reader/view_abstract.aspx?file_no=20150409&flag=1