%0 Journal Article
%T 考虑制作工艺和边缘效应的梳齿电容理论
%A 郭占社
%A 冯舟
%A 庄海涵
%A 宋春苗
%A 樊尚春
%J 哈尔滨工业大学学报
%P 2009-2012
%D 2010
%R 10.11918/j.issn.0367-6234.2010.12.034
%X 为解决梳齿驱动器中理想计算模型误差较大的问题,利用平板电容理论及微积分方法,对制作工艺及边缘效应的影响进行了分析,并建立相应的计算模型.在此基础上,以加工完毕的梳齿驱动器为研究目标,得到其电容在理想条件下、考虑制造工艺误差及边缘效应条件下的计算结果分别为1.2673pF和1.4403pF.两者与利用高精度LCR测试仪测量所得电容1.5172pF之间的相对误差分别为16.47%和5.07%.实验结果表明,考虑制造工艺误差及边缘效应时计算结果的精度远远高于理想条件下计算结果的精度,证明了该理论模型的正确性.
%K MEMS
%K 梳齿驱动器
%K 平板电容理论
%K 边缘效应
%K 制作工艺
%U http://journal.hit.edu.cn/hitxb_cn/ch/reader/view_abstract.aspx?file_no=20101234&flag=1