%0 Journal Article
%T 软X射线分光晶体TAP缺陷成因的研究
%A 陈义平
%A 林树坤
%A 关铁堂
%J 福州大学学报(自然科学版)
%D 1997
%X 测定了ＴＡＰ晶体中铊离子的价态，发现ＴＡＰ晶体中除了一价的铊离子Ｔｌ＋外，还有少量三价铊离子Ｔｌ３＋的存在．实验还测定ＴＡＰ晶体中存在的金属离子杂质，总量为０２０７ｍｇ／ｇ．联系ＴＡＰ结构的特点讨论了ＴＡＰ晶体存在Ｔｌ３＋和金属离子杂质是产生ＴＡＰ晶体结构缺陷的重要原因，并分析了ＴＡＰ晶体位错线基本走向平行于ｃ轴的原因
%K 邻苯二甲酸氢铊
%K X射线分光晶体
%K 晶体缺陷
%U http://xbzrb.fzu.edu.cn/ch/reader/view_abstract.aspx?file_no=19970122&flag=1