%0 Journal Article
%T SD 80-1型半微分器
%A 林文如
%A 林耿介
%A 王耀光
%J 福州大学学报(自然科学版)
%D 1981
%X 近来提出了一种新的电分析技术──半微分电分析法。这个方法比一般线性扫描伏安法具有更高的灵敏度和更好的分辨率。为了采用这个方法测定痕量重金属，我们自己设计组装了一台半微分器。该仪器由电流半微分模拟电路、衰减器、调零器和稳压器四部份组成。用此半微分器与国产75－3A型极谱仪联用，进行仪器性能试验，所得实验结果与阳极溶出半微分电分析法的理论公式的预计相符合。
%U http://xbzrb.fzu.edu.cn/ch/reader/view_abstract.aspx?file_no=19810339&flag=1