%0 Journal Article
%T 用电子散斑法对纯镍薄片弯曲变形的测量
%A 郭香华
%A 方岱宁
%A 李喜德
%J 力学与实践
%P 0-0
%D 2005
%R 10.6052/1000-0992-2004-077
%X 由于建立的电子散斑法有位移测量精度高、量程大的特点，且自制的力传感器灵敏度高、量程相对较大，从而保证了本实验中镍片在三点弯中的反应被全程、精确地记录下来.基于时间序列的电子散斑法，测出了10$\sim$100\,$\mu$m不同厚度的纯镍薄片在三点弯下的载荷-位移曲线，其中包括弹性部分以及进入塑性屈服两个阶段，据此可以推出不同厚度镍片的三点弯刚度.实验表明镍片的抗弯刚度受其厚度的影响很大，尤其在薄片厚度较小时表现得更为明显，即表现出明显的尺度效应.
%K 应变梯度
%K 抗弯刚度
%K 电子散斑法
%U http://lxsj.cstam.org.cn/CN/abstract/abstract136697.shtml