%0 Journal Article
%T 用同步辐射XRF研究单晶硅中掺杂元素As的分布
%A 刘亚雯
%J 科学通报
%P 1949-1949
%D 1992
%X 半导体材料中掺入少量杂质元素可以改变材料性能,掺杂元素在晶体中的含量和分布直接影响材料的质量。电子技术的发展需要批量生产出高质量的各种掺杂的硅单晶材料,这就要求建立一种快速准确的分析测试手段与之相适应。同步辐射X射线荧光(SRXRF)是80年代发展起来的一种新技术。同步辐射光源具有高
%K 同步辐射
%K X射线微荧光分析
%K 生长界面
%U http://csb.scichina.com:8080/CN/abstract/abstract361517.shtml