%0 Journal Article
%T 掺Na~+硅-二氧化硅界面的迴旋共振和磁输运研究
%A 章宏睿
%J 科学通报
%P 1427-1430
%D 1984
%X 掺Na~+到Si-SiO_2中,对它的(100)面硅界面电子的有效质量m_c~*及弛豫时间τ'有显著影响。但用直流电导法和磁阻效应测量时,结果出入很大。如从磁阻振荡的振幅与温度的依赖关系的测定中求得的m_c~*在低浓度N_(ox)(Na~+)=1.6×10~(11)(厘米)~(-2)时为0.226m_0。当
%U http://csb.scichina.com:8080/CN/abstract/abstract356085.shtml