%0 Journal Article
%T 用正电子湮没辐射Doppler展宽谱测位错密度和空位浓度
%A 彭郁卿
%J 科学通报
%P 22-24
%D 1983
%X 一、方法由于正电子对物质结构缺陷的极端灵敏性,正电子湮没谱学已经广泛地被人们用来分析金属试样的缺陷。正电子射入金属试样经过热化后,遇到电子就发生湮没,正电子-电子对的静止质量转化为电磁辐射,主要的形式是产生两个发射方向相反、能量各为0.511MeV的γ光
%U http://csb.scichina.com:8080/CN/abstract/abstract355109.shtml