%0 Journal Article
%T 关于矽钢片的性能测量
%A 向仁生
%J 科学通报
%P 280-281
%D 1957
%X 有关矽钢片检验工作中所用的埃波斯坦方圈样品的实效磁路长度的问题,国外直到近期仍有不少研究工作发表,不久前英国出版的一本专书颇有收集。我们这里提出的研究结果尚不见于文献。最常用的测量方法中的样品及线圈的安排如图。
%U http://csb.scichina.com:8080/CN/abstract/abstract350155.shtml