%0 Journal Article
%T 触点动态接触电阻时间序列混沌预测
%A 李玲玲
%A 马东娟
%A 李志刚
%J 电工技术学报
%P 187-193
%D 2014
%X 触点电接触性能的稳定性直接影响继电器乃至整个系统的可靠性,而接触电阻是表征触点电接触性能的重要参数之一,基于混沌理论对触点动态接触电阻峰值时间序列进行分析,并验证了混沌预测的有效性。首先对动态接触电阻峰值时间序列数据进行相空间重构,确定了接触电阻序列的最佳嵌入维数m和延迟时间τ。在说明动态接触电阻峰值时间序列具有混沌特性的基础上,根据最大Lyapunov指数对触点动态接触电阻峰值时间序列进行了混沌预测,并给出了混沌预测的可靠范围。预测结果与试验数据对比发现,混沌预测短期效果较好。本文分析了触点动态接触电阻峰值时间序列的混沌特性,为触点电接触可靠性研究提供了新思路。
%K 动态接触电阻
%K 时间序列
%K 最大Lyapunov指数
%K 混沌预测
%U http://www.ces-transaction.com/CN/abstract/abstract2645.shtml