%0 Journal Article
%T 染污绝缘子串直流污闪放电模型及验证
%A 张志劲
%A 蒋兴良
%A 孙才新
%A 胡建林
%A 苑吉河
%J 电工技术学报
%P 36-41
%D 2009
%X 绝缘子污秽闪络事故严重威胁电力系统的安全可靠运行,目前国内外对污闪机理的研究主要是以平板模型为基础。本文以7片串XP-160绝缘子为例,开展染污绝缘子串直流污闪放电模型研究。提出染污绝缘子串直流放电过程的电路模型是由剩余污层电阻、沿面电弧和空气间隙电弧串联组成；根据模型计算所得的临界污闪电压与实测值的误差在7%以内；得到泄漏电流大于200mA时,染污绝缘子串局部电弧的综合受力中热浮力起主导作用,解释了局部电弧发展中存在飘弧现象的原因。
%K 直流
%K 绝缘子串
%K 污闪模型
%K 泄漏电流
%U http://www.ces-transaction.com/CN/abstract/abstract380.shtml