%0 Journal Article
%T 基于Kaiser窗频谱校正的介质损耗因数测量
%A 高云鹏
%A 滕召胜
%A 曾博
%A 杨步明
%J 电工技术学报
%P 203-208
%D 2009
%X 采用基本窗函数和广义余弦窗函数对信号加权的谐波分析法可减轻非整周期截断对介质损耗因数tanδ测量的影响,但其效果受到窗函数固定旁瓣性能的制约。Kaiser窗可定义一组可调的窗函数,自由选择主瓣与旁瓣衰减之间的比重,因此能全面地反映主瓣与旁瓣衰减之间的交换关系。本文讨论了Kaiser窗的旁瓣特性,提出了基于Kaiser窗双谱线插值FFT的tanδ测量方法,运用多项式拟合求出了实用的插值修正公式,推导了信号初相角及tanδ的计算式。仿真结果表明,Kaiser窗函数抑制频谱泄漏效果好,基于Kaiser窗的双谱线插值FFT方法克服了谐波干扰、基波频率波动、采样频率变动、采样时间长度变化及白噪声对tanδ测量的影响,且设计实现灵活,测量结果精确、稳定,可用于介质损耗因数tanδ的离线测量与在线监测。
%K 介质损耗因数
%K Kaiser窗
%K 插值FFT
%K 谐波分析法
%K 误差分析
%U http://www.ces-transaction.com/CN/abstract/abstract436.shtml