%0 Journal Article
%T 基于杂散参数辨识的IGBT模块内部缺陷诊断方法
%A 周雒维
%A 周生奇
%A 孙鹏菊
%J 电工技术学报
%P 156-163
%D 2012
%X 为识别IGBT模块早期内部缺陷,增强其运行的可靠性,本文提出一种基于杂散参数辨识的IGBT模块内部缺陷的诊断方法。该方法利用最小二乘法辨识IGBT模块门极内部杂散参数因经受电、热老化而导致的变化,进而判断内部是否存在缺陷,及时制定维护措施,从而有效防止运行中突发失效及由此造成的设备损坏。与现有的故障诊断方法相比,其响应时间更充裕,实验研究结果验证了其诊断结论的正确性和实用性。
%K IGBT模块
%K 可靠性
%K 缺陷
%K 参数辨识
%U http://www.ces-transaction.com/CN/abstract/abstract1577.shtml