%0 Journal Article
%T 高压对高温超导体La1.85Sr0.15CuO4电子结构的影响
%A 郝学军
%A 章立源
%A 王怀玉
%J 高压物理学报
%P 1-8
%D 1994
%R 10.11858/gywlxb.1994.01.001
%X 采用Recursion方法计算了常压和1GPa、4GPa、8GPa高压下La1.85Sr0.15CuO4的电子结构，给出了费米能、费米能处态密度以及各晶位原子价的定量变化。结果表明：高压下Tc的变化可能源于CuO2面上氧空穴和铜空穴数目的改变，且氧空穴数目的增加有利于超导性。
%K 电子态密度
%K 能带宽度
%K 费米面
%K 原子价
%K 空穴浓度
%U http://www.gywlxb.cn/CN/abstract/abstract1053.shtml