%0 Journal Article
%T 高聚物P(EO)n-CuBr2薄膜在流体静高压下离子电导率和介电常数的提高(Ⅰ)——发现三种不同相的压力效应
%A 苏骁
%A 戴卫平
%A 苏昉
%J 高压物理学报
%P 12-23
%D 2001
%R 10.11858/gywlxb.2001.01.003
%X 用混溶蒸发法制备出一系列高聚物P(EO)n-CuBr2（n=4,8,12,16,24）薄膜，并详细测量它们在0.1～350MPa静水压范围内的复阻抗谱、在0.1～2400MPa静水压范围内的交流电导率以及介电常数。结果表明：离子电导率对压力的依赖关系（σ-p曲线）是条折线，可分解为四条直线相迭加。进一步做X射线衍射物相分析，它们分别归于PEO非晶相的压力效应、PEO结晶相的压力效应和析出CuBr2新相的压力效应。由此计算出上述三种不同相所对应的激活体积、截止压力各自随高聚物P(EO)n-CuBr2薄膜组分的变化。为减小离子电导率的压力效应提供了物理基础。
%K 聚乙烯氧化物薄膜
%K 静水压
%K 复阻抗谱
%K 离子电导率
%K 介电常数
%U http://www.gywlxb.cn/CN/abstract/abstract696.shtml