%0 Journal Article
%T 新型的高层次测试综合方法
%A 孙强
%A 马光胜
%J 北京邮电大学学报
%P 34-38
%D 2009
%R 10.13190/jbupt.200901.34.005
%X 提出了一种基于遗传算法的高层次测试综合方法.该方法在调度、模块分配和寄存器分配过程中考虑电路的可测性问题.给出了一种可以同时进行高层次调度和模块分配的遗传算法染色体编码，并设计了基于数据依赖的单点杂交算子和基于控制步约束的变异算子，避免了进化过程中不可行解的产生.实验结果表明,该方法在有效地改善了可测性。
%K 高层次综合
%K 可测性
%K 遗传算法
%U http://www.buptjournal.cn/CN/abstract/abstract542.shtml