%0 Journal Article
%T 序列对递增生成的SOC测试调度算法
%A 牛道恒
%A 王红
%A 杨士元
%J 北京邮电大学学报
%P 19-23
%D 2007
%R 10.13190/jbupt.200705.19.niudh
%X 提出了一种确定性的片上系统(SOC)测试调度算法。在对测试环采取最优分配和平衡优化的基础上，构造包含四种序列对递增生成方法的循环迭代过程。该过程同时考虑测试访问机制的宽度、空隙面积、IP核测试面积等因素，可在较短的迭代步数得到有效的测试调度方案。对ITC’02基准电路进行了实验。结果表明，在得到近似解的前提下，该算法较传统的模拟退火算法具有更快的运行速度。
%K 片上系统
%K 测试调度
%K 测试环
%K 测试访问机制
%K 序列对
%U http://www.buptjournal.cn/CN/abstract/abstract183.shtml