%0 Journal Article
%T Comparaci¨®n entre el modelaje y simulaci¨®n del flickermetro de la norma IEC-61000-4-15 mediante la Transformada de Ond¨ªcula Discreta y mediante la Transformada R¨¢pida de Fourier Comparison between the modeled and simulation of the Flickermeter based on the Standard IEC-61000-4-15 through the Discrete Wavelet Transform and Fast Fourier Transform
%A Dan El Montoya
%J Revista T¨¦cnica de la Facultad de Ingenier¨ªa Universidad del Zulia
%D 2008
%I Scientific Electronic Library Online
%X La fluctuaci¨®n de voltaje es la primera causa del efecto lum¨ªnico flicker. Algunas definiciones y est¨¢ndares han sido propuestos para medir el grado del flicker. Los est¨¢ndares definen niveles de flicker admisibles en funci¨®n de la frecuencia. Algoritmos basados sobre la Transformada R¨¢pida de Fourier han sido ampliamente usados en el an¨¢lisis digital del voltaje flicker. En la ¨²ltima d¨¦cada se ha usado la Transformada de Ond¨ªcula en muchos t¨®picos sobre sistemas el¨¦ctricos de potencia. Las aplicaciones han sido enfocadas principalmente en la clasificaci¨®n de perturbaciones de la calidad de potencia. El an¨¢lisis ond¨ªcula ha sido usado en el an¨¢lisis de se ales en r¨¦gimen permanente. En este sentido la Transformada de Ond¨ªcula ha sido usada en la identificaci¨®n de arm¨®nicos, subarm¨®nicos e interarm¨®nicos. Tambi¨¦n se ha usado las ond¨ªculas de Morlet y la Gaussiana en el c¨¢lculo del espectro de la se al flicker. Este c¨¢lculo ser¨ªa crucial en la determinaci¨®n del ¨ªndice de severidad del flicker en tiempo corto (Pst) del est¨¢ndar IEC-61000-4-15. El objetivo de este trabajo es el c¨¢lculo del ¨ªndice de severidad del flicker a corto plazo (Pst) de la norma IEC-61000-4-15 mediante la Transformada de Ond¨ªcula Discreta y mediante la Transformada R¨¢pida de Fourier con la finalidad de comparar resultados. Voltage fluctuation is the first cause of the flicker light effect. Some definitions and standards have been proposed to measure the grade of the flicker. The standards define admissible flicker levels in function of the frequency. Algorithms based on the Fast Fourier Transform have been used a lot in digital analysis of flicker voltage. In the last decade it has been implemented the wavelet transform in many issues on power electric systems. The applications have been focused on the classification of the disturbances in measurement on power quality. The wavelet analysis has been used on steady state signal analysis. In this way the wavelet transform has been used to identify harmonics, sub harmonics and no-integer harmonics. Also the Morlet and the Gaussian wavelets have been used in the calculation of the flicker signal spectrum. This will be crucial to calculate or Pst of the standard IEC-41000-6-15. The objective of this paper is to calculate short-term flicker evaluation through the Discrete Wavelet Transform and the Fast Fourier Transform in order to compare results.
%K Flicker
%K flickermetro
%K ond¨ªcula
%K calidad de potencia
%K calidad de servicio el¨¦ctrico
%K Flicker
%K flickermeter
%K wavelet
%K power quality
%U http://wwww.scielo.org.ve/scielo.php?script=sci_arttext&pid=S0254-07702008000100005